日本napson非接觸式薄層電阻多點(diǎn)測(cè)量?jī)x

產(chǎn)品名稱: 日本napson非接觸式薄層電阻多點(diǎn)測(cè)量?jī)x

產(chǎn)品型號(hào): NC-80MAP

產(chǎn)品特點(diǎn): 日本napson非接觸式薄層電阻多點(diǎn)測(cè)量?jī)x
使用多種類型的非接觸式探頭的電阻測(cè)量?jī)x器，范圍廣泛
（要安裝的探頭數(shù)量和探頭類型可根據(jù)要求更改）
從8 mm的邊緣可以進(jìn)行多點(diǎn)測(cè)量

日本napson非接觸式薄層電阻多點(diǎn)測(cè)量?jī)x 的詳細(xì)介紹

日本napson非接觸式薄層電阻多點(diǎn)測(cè)量?jī)x

由于它是一種非接觸式渦流方法，因此可以進(jìn)行測(cè)量而不會(huì)損壞它。
可編程測(cè)量模式和2-D / 3-D映射軟件
*選項(xiàng)：安裝了額外的晶圓厚度測(cè)量探針

測(cè)量規(guī)格

測(cè)量目標(biāo)

半導(dǎo)體/太陽能電池材料相關(guān)（硅，多晶硅，SiC等）
新材料/功能材料相關(guān)（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬，ITO等）
硅基外延，離子與
半導(dǎo)體相關(guān)的注入樣品化合物（GaAs Epi，GaN Epi，InP，Ga等）
其他（*請(qǐng)與我們聯(lián)系）

測(cè)量尺寸

2-8英寸
（可選； 12英寸）

測(cè)量范圍

[電阻] 1m至200Ω? cm
（*所有探頭類型的總量程/厚度500um）
[抗剪強(qiáng)度] 10m至3kΩ / sq
（*所有探頭類型的總量程）

*有關(guān)每種探頭類型的測(cè)量范圍，請(qǐng)參閱以下內(nèi)容。

（1）低：0.01至0.5Ω/□（0.001至
0.05Ω- cm）（2）中：0.5至10Ω/□（0.05至0.5Ω-cm）
（3 ））高：10至1000Ω/□（0.5至60Ω-??cm）
（4）S-高：1000至3000Ω/□（60至200Ω-cm）

映射圖像

與超高電阻范圍兼容的非接觸式（電暈放電法）薄層電阻測(cè)量系統(tǒng)

商品名稱：CRN-100

產(chǎn)品圖片（可根據(jù)客戶要求進(jìn)行各種定制）

產(chǎn)品特點(diǎn)

超高電阻范圍：以非接觸方式測(cè)量10E + 9至10E + 15Ω/□
平面多點(diǎn)測(cè)量功能
2D / 3D映射圖像顯示
Windows 7軟件
測(cè)量數(shù)據(jù)可以CSV文件格式輸出
由于是非接觸型，因此可以不受接觸電阻的影響進(jìn)行測(cè)量。

測(cè)量規(guī)格

測(cè)量目標(biāo)

*通常，可以測(cè)量本設(shè)備測(cè)量范圍內(nèi)的任何樣品。請(qǐng)聯(lián)系我們。

?超高電阻薄膜樣品（a-Si，IGZO等）

?半導(dǎo)體材料接近絕緣

?導(dǎo)電橡膠

這樣

測(cè)量尺寸

尺寸：大300 x 400毫米

厚度：大2毫米

*我們可以自定義您的要求，例如尺寸支持。請(qǐng)聯(lián)系我們。

測(cè)量范圍

10E + 9?10E + 15Ω/□

傳單

*單擊下面的按鈕下載該產(chǎn)品的傳單。

映射圖像

產(chǎn)品信息

接觸電阻測(cè)量?jī)x
非接觸電阻測(cè)量
- 手動(dòng)型（1點(diǎn)測(cè)量系統(tǒng)）
- 半自動(dòng)類型（多點(diǎn)測(cè)量系統(tǒng)[包括軟件+ PC]）
- 全自動(dòng)型（全自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)）
- 串聯(lián)型（嵌入式測(cè)量模塊）
壽命測(cè)量
PN判斷
傳播阻力
4探頭探頭
平面度/厚度測(cè)量
電阻參考晶圓
線性刻度
膜厚測(cè)量系統(tǒng)（非接觸式，光學(xué)式）