日本yamabun臺(tái)式離線(xiàn)光譜干涉儀測(cè)厚儀TOF-S

產(chǎn)品名稱(chēng): 日本yamabun臺(tái)式離線(xiàn)光譜干涉儀測(cè)厚儀TOF-S

產(chǎn)品型號(hào):

產(chǎn)品特點(diǎn): 日本yamabun臺(tái)式離線(xiàn)光譜干涉儀測(cè)厚儀TOF-S
光學(xué)膜和透明涂層的理想選擇
型號(hào)托福
測(cè)量方式非接觸型/光譜干擾型
測(cè)量目標(biāo)電子和光學(xué)透明透明薄膜，多層薄膜
測(cè)量原理光譜干擾類(lèi)型

日本yamabun臺(tái)式離線(xiàn)光譜干涉儀測(cè)厚儀TOF-S 的詳細(xì)介紹

日本yamabun臺(tái)式離線(xiàn)光譜干涉儀測(cè)厚儀TOF-S

日本yamabun臺(tái)式離線(xiàn)光譜干涉儀測(cè)厚儀TOF-S

產(chǎn)品特點(diǎn)

高測(cè)量重復(fù)性（±0.01μm或更小，取決于目標(biāo)物體和測(cè)量條件）
不易受溫度變化的影響
可以制造用于研究和檢查的離線(xiàn)類(lèi)型以及在制造過(guò)程中使用的在線(xiàn)類(lèi)型
反射型可從膠片的一側(cè)進(jìn)行測(cè)量
可以?xún)H測(cè)量透明涂層（取決于測(cè)量條件）

日本yamabun臺(tái)式離線(xiàn)光譜干涉儀測(cè)厚儀TOF-S

產(chǎn)品規(guī)格

測(cè)量厚度	1至50μm（對(duì)于薄材料），10至150μm（對(duì)于厚材料）
測(cè)量長(zhǎng)度	50-5000毫米
測(cè)量間距	1毫米?
小顯示值	0.001微米
電源電壓	AC100伏50/60 Hz
工作溫度范圍	5至45°C（測(cè)量期間溫度變化在1°C以?xún)?nèi)）
濕度	35-80％（無(wú)凝結(jié)）
測(cè)量面積	φ0.6毫米
測(cè)量間隙	約30毫米

金屬板的理想選擇TOF-M

產(chǎn)品特點(diǎn)

測(cè)量帶狀金屬板的厚度變化
通過(guò)自動(dòng)傳輸機(jī)制實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的測(cè)量重復(fù)性
測(cè)量數(shù)據(jù)可以自動(dòng)保存在PC上

產(chǎn)品規(guī)格

測(cè)量厚度	0.1-0.5毫米
測(cè)量長(zhǎng)度	10-1800毫米
測(cè)量間距	0.1毫米?
小顯示值	0.1微米
測(cè)量壓力	0.45±0.25 N以下
電源電壓	AC100V 50/60赫茲
工作溫度范圍	5-40℃
濕度	30-80％（無(wú)凝結(jié)）
耗電量	50 VA（不包括PC）